Admittance Measurement for a Quantum Point Contact in a Multi-terminal Quantum Hall Device
Admittance Measurement for a Quantum Point Contact in a Multi-terminal Quantum Hall Device
复制标题
多端量子霍尔器件中量子点接触的导纳测量
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T.Fujisawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K.Washio;M.Hashisaka;H.Kamata;K.Muraki;T.Fujisawa
