On-Chip Delay Measurement for In-field Periodic Test of FPGAs
On-Chip Delay Measurement for In-field Periodic Test of FPGAs
复制标题
用于 FPGA 现场定期测试的片上延迟测量
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Seiji Kajihara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yousuke Miyake;Yasuo Sato;Seiji Kajihara
