Origin of Anomalous Positive Charging of Water-adsorbed Thin GeO2 Films Studied by Ambient-pressure XPS
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常压 XPS 研究吸水 GeO2 薄膜异常正电荷的起源
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
H. Watanabe and Z. Liu
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Arima;D. Mori;Y. Saito;H. Oka;K. Kawai;T. Hosoi;M. Morita;H. Watanabe and Z. Liu
