スパッタリング法によるY-HZO強誘電体厚膜の室温製膜とその電気特性および圧電特性評価

スパッタリング法によるY-HZO強誘電体厚膜の室温製膜とその電気特性および圧電特性評価
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溅射法室温沉积Y-HZO铁电厚膜及其电学、压电性能评价

DOI:
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发表时间:
2020
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
舟窪浩
舟窪浩
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
志村礼司郎;三村和仙;舘山明紀;清水荘雄;白石貴久;舟窪浩

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