K.Goto,K.Hane: "Tip-sample capacitance in capacitance microscopy of dielectric films" Journal of Applied Physics. 84・8. 4043-4048 (1998)
K.Goto,K.Hane: "Tip-sample capacitance in capacitance microscopy of dielectric films" Journal of Applied Physics. 84・8. 4043-4048 (1998)
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K.Goto、K.Hane：“介电膜电容显微镜中的尖端样品电容”应用物理学杂志 84・8（1998）。
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