膜厚制御型試料を利用した銅の抗菌性発現最小量評価法の開発
膜厚制御型試料を利用した銅の抗菌性発現最小量評価法の開発
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开发使用膜厚控制样品评估铜的最低抗菌活性的方法
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
木内 正人
中科院分区：
文献类型：
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作者：
宮野泰征;本城国明;神谷修;木内 正人
