Ellipsometric studies on cupric telluride thin films
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DOI：
10.1016/j.vacuum.2007.04.033
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发表时间：
2007-09
期刊：
影响因子：
4
通讯作者：
K. Neyvasagam;N. Soundararajan;V. Venkatraman;V. Ganesan
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Neyvasagam;N. Soundararajan;V. Venkatraman;V. Ganesan
