Highly angular resolved photoelectron diffraction study on semiconductor surface phase transition
Highly angular resolved photoelectron diffraction study on semiconductor surface phase transition
复制标题
半导体表面相变的高角分辨光电子衍射研究
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y.Nihei
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K.Amano H.Mochiduki;M.Nojima;M.Owari;Y.Nihei
