Temperature Dependence of Resistance in Conductive Filament Formed with Dielectric Breakdown of Ni/TiO_2/Pt structure
Temperature Dependence of Resistance in Conductive Filament Formed with Dielectric Breakdown of Ni/TiO_2/Pt structure
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Ni/TiO_2/Pt结构介电击穿形成的导电丝电阻的温度依赖性
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and S. Shingubara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Otsuka;Y. Hamada;T. Shimizu;and S. Shingubara
