Polarimetry of hard X-rays from highly charged ions using a Si/CdTe Compton camera
Polarimetry of hard X-rays from highly charged ions using a Si/CdTe Compton camera
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使用 Si/CdTe 康普顿相机对高电荷离子的硬 X 射线进行偏振测定
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and T. Takahashi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Tsuzuki;S. Watanabe;S. Oishi;N. Nakamura;N. Numadate;H. Odaka;Y. Uchida;H. Yoneda;and T. Takahashi
