Characterization of deep level defects in boron-doped (001) and (111) diamond films

Characterization of deep level defects in boron-doped (001) and (111) diamond films
复制标题

硼掺杂(001)和(111)金刚石薄膜深能级缺陷的表征

DOI:
--
复制
发表时间:
2022
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
and K. Kojima
and K. Kojima
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
O. Maida;S. Ichikawa;and K. Kojima

文献摘要

相似文献