K.Ebihara, T.Tanaka, T.Ikegami, K.Yamashita, Y.Oyama: "Application of the dielectric barrier discharge to detect defects in a Teflon coated metal surface"Journal of Physics D : applied physics. 36. 2883-2886 (2003)
K.Ebihara, T.Tanaka, T.Ikegami, K.Yamashita, Y.Oyama: "Application of the dielectric barrier discharge to detect defects in a Teflon coated metal surface"Journal of Physics D : applied physics. 36. 2883-2886 (2003)
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K.Ebihara、T.Tanaka、T.Ikegami、K.Yamashita、Y.Oyama：“应用介质阻挡放电来检测特氟龙涂层金属表面的缺陷”物理学杂志 D：应用物理学。
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