11)新井泰彦，横関俊介: 電子スペックル干渉計測による面内・面外同時変形計測, 光学
11)新井泰彦，横関俊介: 電子スペックル干渉計測による面内・面外同時変形計測, 光学
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11）Yasuhiko Arai、Shunsuke Yokoseki：通过电子散斑干涉测量、光学进行同步面内和面外变形测量
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
新井 泰彦
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Yanagisawa;Y. Yanagisawa;K. Sato;H. Nakagome;H. Maeda;平井規央，坂本佳子，矢後勝也，石井 実;高瀬圭祐，後藤博樹，一ノ倉理;新井 泰彦
