M. Yoshimura: "Observation of Si(110) surfaces by high-temperature scanning tunneling microscopy"Jpn. J. Appl. Phys.. (in press).
M. Yoshimura: "Observation of Si(110) surfaces by high-temperature scanning tunneling microscopy"Jpn. J. Appl. Phys.. (in press).
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M. Yoshimura：“通过高温扫描隧道显微镜观察 Si(110) 表面”Jpn。
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