Ikuo Kanno: "Recombination Effect as Component of Residual Defect in Silicon Surface Barrier Detector" Journal of Nuclear Science and Tachnology. 29. 690-694 (1992)
Ikuo Kanno: "Recombination Effect as Component of Residual Defect in Silicon Surface Barrier Detector" Journal of Nuclear Science and Tachnology. 29. 690-694 (1992)
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Ikuo Kanno：“复合效应作为硅表面势垒探测器中残余缺陷的组成部分”核科学与技术杂志。
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