中村 夏雄: "Structure analysis of the single‐domain Si(111)4×1ーInsurface by μ‐probe Auger electron diffraction and μ‐probe reflection high energy electron diffraction" Surface Science. 256. 129-134 (1991)
中村 夏雄: "Structure analysis of the single‐domain Si(111)4×1ーInsurface by μ‐probe Auger electron diffraction and μ‐probe reflection high energy electron diffraction" Surface Science. 256. 129-134 (1991)
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Natsuo Nakamura：“通过 μ 探针俄歇电子衍射和 μ 探针反射高能电子衍射对单域 Si(111)4×1-Insurface 进行结构分析”《表面科学》256. 129-134 (1991)。
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