Mechanisms of Recombination-enhanced Defect Reactions in Semiconductors
Mechanisms of Recombination-enhanced Defect Reactions in Semiconductors
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半导体中复合增强缺陷反应的机制
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y. Shinozuka
中科院分区：
文献类型：
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作者：
馬場正太郎;永井勇太;赤津光洋;小松悟;三本啓輔;根本祐一;金田寛;後藤輝孝;Y.K.Zhou;Y. Shinozuka
