Diagnostic nano-analysis of materials properties by multivariate curve resolution applied to spectrum images by S/TEM-EELS
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通过 S/TEM-EELS 应用于光谱图像的多元曲线分辨率对材料特性进行诊断纳米分析
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Mater. Trans
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Muto;T. Yoshida and K. Tatsumi;Mater. Trans
