Microstructure for the determination of the Seebeck coefficients of doped polysilicon thin films
Microstructure for the determination of the Seebeck coefficients of doped polysilicon thin films
复制标题
用于测定掺杂多晶硅薄膜塞贝克系数的微观结构
DOI：
10.1063/1.4731584
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
O. Paul
中科院分区：
文献类型：
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作者：
D. Moser;A. Steffen;O. Paul
