Ogawa: "Characterization of dielectric crystals by light scattering tomography" Ferroelectronics. 142. 19-29 (1993)
Ogawa: "Characterization of dielectric crystals by light scattering tomography" Ferroelectronics. 142. 19-29 (1993)
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小川：“通过光散射断层扫描表征介电晶体”铁电子学。
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