Noncontact Atomic Force and Kelvin Probe Force Microscopy on MgO(100) and MgO(100)-Supported Ba
Noncontact Atomic Force and Kelvin Probe Force Microscopy on MgO(100) and MgO(100)-Supported Ba
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MgO(100) 和 MgO(100) 负载 Ba 的非接触原子力和开尔文探针力显微镜
DOI：
10.1016/j.susc.2015.09.022
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and H. Onishi,
中科院分区：
文献类型：
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作者：
C. L. Pang;A. Sasahara;and H. Onishi,
