Development of a novel low-flow ion source/sampling cone geometry for inductively coupled plasma mass spectrometry and application in hyphenated techniques
Development of a novel low-flow ion source/sampling cone geometry for inductively coupled plasma mass spectrometry and application in hyphenated techniques
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开发用于电感耦合等离子体质谱的新型低流量离子源/采样锥几何结构及其在联用技术中的应用
DOI：
10.1016/j.sab.2012.06.053
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Buscher
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Pfeifer;Janzen;Steingrobe;Sperling;Franze;Engelhard;Buscher
提出了一种用于电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）的新型离子源/取样锥装置，该装置作为与不同分离模块耦合的检测系统，特别是在联用模式下运行。详细介绍了该系统的技术组成。其主要特点是氩气总消耗量非常低，低于1.5Lmin−1，从而显著降低了运行成本，尤其是在进行耗时的形态分析时。探讨了新系统在灵敏度、检测能力、长期稳定性和工作范围等方面的优点。尽管新系统的氩气消耗与传统ICP-MS系统相比有很大差异，但传统ICP-MS的许多特征可以在很大程度上保持。为了证明离子源的能力，它被用作气体（GC）和高效液相色谱（HPLC）的元素选择性检测器，其中汞和钴的有机化合物分别被分离和检测与新的低流量ICP-MS检测系统。显示了相应的色谱图。微量元素分析的适用性已通过经认证的参比物质NIST 1643 e进行了验证。
A novel ion source/sampling cone device for inductively coupled plasma mass spectrometry (ICP-MS) especially operated in the hyphenated mode as a detection system coupled with different separation modules is presented. Its technical setup is described in detail. Its main feature is the very low total argon consumption of less than 1.5Lmin−1, leading to significant reduction of operational costs especially when time-consuming speciation analysis is performed. The figures of merit of the new system with respect to sensitivity, detection power, long-term stability and working range were explored. Despite the profound differences of argon consumption of the new system in comparison to the conventional ICP-MS system, many of the characteristic features of the conventional ICP-MS could be maintained to a great extent. To demonstrate the ion source's capabilities, it was used as an element-selective detector for gas (GC) and high performance liquid chromatography (HPLC) where organic compounds of mercury and cobalt, respectively, were separated and detected with the new low-flow ICP-MS detection system. The corresponding chromatograms are shown. The applicability for trace element analysis has been validated with the certified reference material NIST 1643e.
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