マルチスライスX線タイコグラフィによる厚い試料の高分解能観察
マルチスライスX線タイコグラフィによる厚い試料の高分解能観察
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使用多层 X 射线叠层成像技术对厚样品进行高分辨率观察
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
高橋幸生
中科院分区：
文献类型：
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作者：
下村啓;広瀬真;東野嵩也;高橋幸生
