Si-Wall電極型PECVDによるSiナノドットにおける充放電特性評価
Si-Wall電極型PECVDによるSiナノドットにおける充放電特性評価
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使用Si-Wall电极型PECVD评估Si纳米点的充放电特性
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
林司
中科院分区：
文献类型：
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作者：
市川和典;P.Punchaipetch;矢野裕司;畑山智亮;浦岡行治;冬木隆;高橋英治;林司
