超高圧電子顕微鏡トモグラフィーによる立体観察技術〜病理組織から半導体デバイスまで〜
超高圧電子顕微鏡トモグラフィーによる立体観察技術〜病理組織から半導体デバイスまで〜
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利用超高压电子显微镜断层扫描的三维观察技术～从病理组织到半导体器件～
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
鷹岡昭夫
中科院分区：
文献类型：
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作者：
A.Takaoka;H.Mori;鷹岡昭夫
