T.Ushiki,K.Kotani,T.Funaki,K.Kawai,and T.: "Evidence of energetically-localized trap-states at SOI-BOX interface in high-dose SIMOX wafers"1999 IEEE International SOI Conference. 48-49 (1999)
T.Ushiki,K.Kotani,T.Funaki,K.Kawai,and T.: "Evidence of energetically-localized trap-states at SOI-BOX interface in high-dose SIMOX wafers"1999 IEEE International SOI Conference. 48-49 (1999)
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T.Ushiki、K.Kotani、T.Funaki、K.Kawai 和 T.：“高剂量 SIMOX 晶圆中 SOI-BOX 界面处能量局域陷阱态的证据”1999 年 IEEE 国际 SOI 会议。
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