Extended Depth-of-focus Algorithms in Brightfield Microscopy
Extended Depth-of-focus Algorithms in Brightfield Microscopy
复制标题
明场显微镜中的扩展焦深算法
DOI：
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发表时间：
2002
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
J. M. Becerra
中科院分区：
文献类型：
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作者：
A. Valdecasas;D. Marshall;J. M. Becerra
K E Y W O R D D S扩展焦距，小波，形态测量分析，明场显微镜A C K N O W L E D G E M E N T S Juan josjos terero， J. Bruno和Emilio de Matias帮助完成了这本手册
K E Y W O R D S Extended depth of focus, wavelets, morphometric analysis, bright-field microscopy A C K N O W L E D G E M E N T S Juan José Terrero, J. Bruno and Emilio de Matias helped in completing this manu-