FiCCを用いたCMOS互換な不揮発性メモリ実現に向けた素子特性測定
FiCCを用いたCMOS互換な不揮発性メモリ実現に向けた素子特性測定
复制标题
使用 FiCC 测量 CMOS 兼容非易失性存储器的器件特性
DOI：
--
复制
发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
越智 裕之
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
田中 一平;宮川 尚之;木村 知也;今川 隆司;越智 裕之
