Investigation of localized Phase Changes using High Resolution Electron Back-Scatter Diffraction in Thin Film Cadmium Telluride Photovoltaic Material with High Lattice Defect Densitie
Investigation of localized Phase Changes using High Resolution Electron Back-Scatter Diffraction in Thin Film Cadmium Telluride Photovoltaic Material with High Lattice Defect Densitie
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使用高分辨率电子背散射衍射研究具有高晶格缺陷密度的薄膜碲化镉光伏材料中的局部相变
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Walls, JM
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Abbas, a;Munsh, ai;. Barth, KL;Sampath, WS;West, G;Walls, JM
