Surface Plasmon Microscopy Using an Energy-Fitered Low Energy Electrop Microscope

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使用能量过滤低能电子显微镜的表面等离子体显微镜

DOI:
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发表时间:
2008
期刊:
Phys. Rev. Lett. 100
影响因子:
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通讯作者:
et. al.
et. al.
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
Y. Fujikawa;et. al.

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