Fast identification of cracks using higher-order topological sensitivity for 2-D potential problems
Fast identification of cracks using higher-order topological sensitivity for 2-D potential problems
复制标题
使用高阶拓扑敏感性快速识别二维潜在问题的裂纹
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M. Bonnet
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Bonnet
