T.Kubota, S.Yokoyama, T.Nakahama, S.Mashiko, Y.Noguchi, Y.Majima, M.Iwamoto: "Effect of the metal/organic interface phenomena on the current-voltage characteristics of organic shingle electron tunneling device"Thin Solid Films. 393. 379-382 (2001)
T.Kubota, S.Yokoyama, T.Nakahama, S.Mashiko, Y.Noguchi, Y.Majima, M.Iwamoto: "Effect of the metal/organic interface phenomena on the current-voltage characteristics of organic shingle electron tunneling device"Thin Solid Films. 393. 379-382 (2001)
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T.Kubota、S.Yokoyama、T.Nakahama、S.Mashiko、Y.Noguchi、Y.Majima、M.Iwamoto：“金属/有机界面现象对有机叠瓦电子隧道器件电流-电压特性的影响”
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