Damage Evolution under Bending and Tensile Stresses and Its Influence on Critical Current of Bi2223/Ag Superconducting Tape

Damage Evolution under Bending and Tensile Stresses and Its Influence on Critical Current of Bi2223/Ag Superconducting Tape
复制标题

Bi2223/Ag超导带在弯曲和拉伸应力下的损伤演化及其对临界电流的影响

DOI:
--
复制
发表时间:
--
期刊:
Journal of Nuclear Materials 329-333
影响因子:
--
通讯作者:
M.Tanaka 他5名
M.Tanaka 他5名
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
S.Ochiai;H.Okuda;M.Hojo;M.Tanaka 他5名

文献摘要

参考文献

被引文献

相似文献

DOI: 10.1063/1.355277
发表时间: 1993
影响因子: 3.2
作者:
Shojiro Ochiai;K. Osamura;Kazuo Watanabe
通讯作者: Kazuo Watanabe
BSCCO 带在张力下的临界电流响应
DOI: 10.1007/bf02652987
发表时间: 1995
影响因子: 2.1
作者:
W. Blumenthal;R. A. Moore;J. Coulter;J. Bingert;K. V. Salazar
通讯作者: K. V. Salazar
采用金属前驱体路线制造的多丝 Bi-2223 复合带
DOI: 10.1109/77.233845
发表时间: 1993
影响因子: 1.8
作者:
Alexander Otto;L. Masur;J. Gannon;E. Podtburg;D. Daly;G. J. Yurek;Alexis P. Malozemoff
通讯作者: Alexis P. Malozemoff
DOI: 10.1023/a:1006618619566
发表时间: 1999
期刊: Journal of Materials Science Letters
影响因子: --
作者:
Shojiro Ochiai;T. Sawada;S. Nishino;H. Sekino;M. Hojo;Y. Yamada;K. Hayashi;N. Ayai;M. Koganeya;M. Ono
通讯作者: M. Ono
银套超导带中 Bi(Pb)SrCaCuO 和 YBaCuO 的强度和临界电流密度
DOI: 10.1016/0011-2275(92)90312-x
发表时间: 1992
期刊: Cryogenics
影响因子: 2.1
作者:
Shojiro Ochiai;K. Hayashi;K. Osamura
通讯作者: K. Osamura