Critical Layer Thickness for Columnar Growth Nanostructures of CoPt-based Alloy-Oxide Granular Media used for Perpendicular Magnetic Recording
Critical Layer Thickness for Columnar Growth Nanostructures of CoPt-based Alloy-Oxide Granular Media used for Perpendicular Magnetic Recording
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用于垂直磁记录的CoPt基合金氧化物颗粒介质的柱状生长纳米结构的临界层厚度
DOI：
10.3131/jvsj2.60.112
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
斉藤 伸
中科院分区：
文献类型：
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作者：
佐々木晋五;佐々木有三;斉藤 伸
