Sensitivity Properties of a Direct Conversion Silicon X-ray Sensor with Trench-Structured Photodiodes
Sensitivity Properties of a Direct Conversion Silicon X-ray Sensor with Trench-Structured Photodiodes
复制标题
沟槽结构光电二极管直接转换硅X射线传感器的灵敏度特性
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and Y.Arima
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T.Ariyoshi;S.Funaki;K.Sakamoto;A.Baba;and Y.Arima
