Fabrication and Characterization of Nanowires using a Helium Ion Microscope
Fabrication and Characterization of Nanowires using a Helium Ion Microscope
复制标题
使用氦离子显微镜制造和表征纳米线
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
小林 峰
中科院分区：
文献类型：
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作者：
小林 峰;小林 峰
