PDD構造を持つX線SOIピクセル検出器のX線応答特性評価
PDD構造を持つX線SOIピクセル検出器のX線応答特性評価
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PDD结构X射线SOI像素探测器X射线响应特性评估
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
土居俊輝，鶴剛，武田彩希，田中孝明，他
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Stephen Kwong;Martha K Savage;Emily Warren-Smith;Katie Jacobs;Laura Wallace;Kimihiro Mochizuki;土居俊輝，鶴剛，武田彩希，田中孝明，他
