A Defective Level Monitor of Open Defects in 3D ICs with a Comparator of Offset Cancellation Type
A Defective Level Monitor of Open Defects in 3D ICs with a Comparator of Offset Cancellation Type
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使用偏移消除型比较器对 3D IC 中的开路缺陷进行缺陷水平监测
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hiroyuki Yotsuyanagi and Shyue-Kung Lu
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Michiya Kanda;Masaki Hashizume;Hiroyuki Yotsuyanagi and Shyue-Kung Lu
