Accurate Measurement of Fast Grain Boundary Ionic Diffusion by ToF-SIMS Depth Profiling with Selective Attenuation of Specific Secondary Ions (SASI)
Accurate Measurement of Fast Grain Boundary Ionic Diffusion by ToF-SIMS Depth Profiling with Selective Attenuation of Specific Secondary Ions (SASI)
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通过选择性衰减特定二次离子 (SASI) 的 ToF-SIMS 深度分析来精确测量快速晶界离子扩散
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Tatsumi Ishihara and John Kilner
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Helena Tellez;John Druce;Tatsumi Ishihara and John Kilner
