S.Nakatani: "A Study of the Si(III)√<3>×√<3>ーSb by Xーray diffraction" Japanese Journal of Applied Physics.
S.Nakatani: "A Study of the Si(III)√<3>×√<3>ーSb by Xーray diffraction" Japanese Journal of Applied Physics.
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S.Nakatani：“通过X射线衍射研究Si(III)√<3>×√<3>－Sb”，日本应用物理学杂志。
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