蛍光偏光法を用いたナノ粒子粒径計測に関する研究(第1報)-蛍光DNAプローブを用いた回転拡散係数測定システムの開発-

蛍光偏光法を用いたナノ粒子粒径計測に関する研究(第1報)-蛍光DNAプローブを用いた回転拡散係数測定システムの開発-
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使用荧光偏振法测量纳米颗粒尺寸的研究(第一次报告) - 使用荧光DNA探针的旋转扩散系数测量系统的开发 -

DOI:
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发表时间:
2014
期刊:
精密工学会誌
影响因子:
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通讯作者:
石崎佑樹,林 照剛,道畑正岐,高谷裕浩
石崎佑樹,林 照剛,道畑正岐,高谷裕浩
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
Zhigang Jia;So Ito;Keiichiro Hosobuchi;Shigeaki Goto;Yuki Shimizu;Gaofa He;Wei Gao;石崎佑樹,林 照剛,道畑正岐,高谷裕浩

文献摘要

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