High-resolution RBS: a powerful tool for atomic level characterization
High-resolution RBS: a powerful tool for atomic level characterization
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高分辨率 RBS：原子级表征的强大工具
DOI：
10.1016/j.nimb.2004.01.081
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发表时间：
2004
影响因子：
1.3
通讯作者：
Motofumi Suzuki
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Kimura;S. Joumori;Y. Oota;K. Nakajima;Motofumi Suzuki
