Single-shot Measurement of fringe visibility of 13-nm high-order harmonics
Single-shot Measurement of fringe visibility of 13-nm high-order harmonics
复制标题
13 nm 高次谐波条纹可见度的单次测量
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Yutaka Nagata
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Taku Hasobe;et al.;Yutaka Nagata
影响因子：
1.8
作者：
Johansson, A;Raarup, MK;L'Huillier, A
通讯作者：
L'Huillier, A
极紫外光学系统的波长、系统级耀斑表征。
影响因子：
1.9
作者：
P. Naulleau;K. Goldberg;E. Gullikson;J. Bokor
通讯作者：
J. Bokor
影响因子：
1.4
作者：
E. Tejnil;K. Goldberg;S. Lee;H. Medecki;P. Batson;P. Denham;A. MacDowell;J. Bokor;D. Attwood
通讯作者：
D. Attwood