池田 晋: "走査型電子顕微鏡による半導体素子の検査法" 名城大学理工学部研究報告. 33. 43-50 (1993)
池田 晋: "走査型電子顕微鏡による半導体素子の検査法" 名城大学理工学部研究報告. 33. 43-50 (1993)
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池田进：“使用扫描电子显微镜的半导体器件的检查方法” 名城大学理工学院研究报告 33. 43-50 (1993)。
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