ポジ型レジストのUV光照射による電子ビーム露光感度の向上

ポジ型レジストのUV光照射による電子ビーム露光感度の向上
复制标题

通过用紫外线照射正性抗蚀剂来提高电子束曝光灵敏度

DOI:
--
复制
发表时间:
2018
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
田村茂雄
田村茂雄
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
佐藤 正学;田村茂雄;田村茂雄

文献摘要

相似文献