Measurements of the thicknessof a paint film on a metal by a double-modulation terahertz ellipsometer
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双调制太赫兹椭偏仪测量金属漆膜厚度
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T. Iwata
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. Uemura;Y. Mizutani;T. Yasui;T. Iwata
