Characterization of Al-doped ZnO thin films by laboratory-based hard X-ray photoelectron spectroscopy system
Characterization of Al-doped ZnO thin films by laboratory-based hard X-ray photoelectron spectroscopy system
复制标题
基于实验室的硬X射线光电子能谱系统表征Al掺杂ZnO薄膜
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Makino Hisao
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Takeda Itsuki;Makino Hisao
