H.Shiwaku: "X-ray characterization of lapped Si surfaces for coronary angiogrphy with 311 reflection at 33.17Kev" Rev.Sci.Instrum.63. 1201-1203 (1992)
H.Shiwaku: "X-ray characterization of lapped Si surfaces for coronary angiogrphy with 311 reflection at 33.17Kev" Rev.Sci.Instrum.63. 1201-1203 (1992)
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H.Shiwaku：“用于冠状动脉造影的研磨硅表面的 X 射线特征，在 33.17Kev 处具有 311 反射”Rev.Sci.Instrum.63。
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