A new technique measuring sub-grain boundary density and its influence on minority carrier diffusion length in bulk multicrystalline silicon
A new technique measuring sub-grain boundary density and its influence on minority carrier diffusion length in bulk multicrystalline silicon
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测量块状多晶硅中亚晶界密度的新技术及其对少数载流子扩散长度的影响
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
沓掛 健太朗
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Hasegawa H.;Jiang X.;Tada R.;長谷川 精;長谷川 精;長谷川 精;長谷川 精;沓掛 健太朗;Kentaro Kutsukake;Kentaro Kutsukake;沓掛 健太朗;沓掛 健太朗
