Nondestructive investigation of β-FeSi_2/Si interface by photoluminescence measurements
Nondestructive investigation of β-FeSi_2/Si interface by photoluminescence measurements
复制标题
光致发光无损研究 β-FeSi_2/Si 界面
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and Y. Fujiwara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Terai;Y. Maeda;and Y. Fujiwara
